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KTR007低溫卷繞試驗(yàn)裝置 1、低溫卷繞試樣直徑：Ф2.5～Ф12.5mm 2、卷繞棒直徑： Ф4.0、Ф6.0、Ф8.0、Ф12.0、Ф16.0、Ф20.0、Ф24.0、 Ф28.0、Ф32.0、Ф36.0、Ф40.0、Ф50.0mm共12支（可訂制） 3、過(guò)線套：Ф3.5、Ф6、Ф10、Ф12、Ф16mm各二件（可訂制）

KTR007低溫卷繞試驗(yàn)裝置 符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997《電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法：通用試驗(yàn)方法—低溫試驗(yàn)》、JB∕T4278.11-2011、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標(biāo)準(zhǔn)。適用于考核測(cè)定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能，與低溫箱配套使用

100L高低溫試驗(yàn)箱系列超低溫及高低溫試驗(yàn)箱全部采用法國(guó)泰康、美優(yōu)樂(lè)等風(fēng)冷壓縮機(jī)采用日本富士、PKC等控制儀表。數(shù)顯控溫PID自調(diào)，并具有超溫保護(hù)等功能，采用*的平衡調(diào)溫方式，具有穩(wěn)定平衡的加熱能力，可進(jìn)行高精密，高穩(wěn)定的溫度控制

低溫試驗(yàn)箱（蘇州昆山吳江嘉興湖州徐州泰州淮安鹽城宿遷）適用于電工、電子、儀器儀表及其他產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱循環(huán)下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、適用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，特別適用于光纖，LCD，晶體，電感，電路板，電池，電腦，手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫，耐低溫試驗(yàn)。

低溫拉伸卷繞自動(dòng)智能試驗(yàn)箱符合UL標(biāo)準(zhǔn)和GB/T2951標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的低溫拉伸、低溫卷繞、低溫沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。是本公司研制的的一款低溫拉伸、卷繞自動(dòng)智能為一體式的試驗(yàn)機(jī)，該設(shè)備采用了人機(jī)界面控制，智能化操作方便更簡(jiǎn)單，并配有微型打印機(jī)，打印測(cè)試數(shù)據(jù)。本設(shè)備包括四臺(tái)設(shè)備：高低溫試驗(yàn)箱，電動(dòng)低溫拉伸試驗(yàn)裝置，低溫卷繞試驗(yàn)裝置，低溫沖擊試驗(yàn)裝置。

K-WG-LJ低溫拉伸卷繞自動(dòng)智能試驗(yàn)箱模擬高低溫環(huán)境，廣泛用于確定電工、電子產(chǎn)品對(duì)高低溫環(huán)境的適應(yīng)性（特別是產(chǎn)品的電氣性能和機(jī)械性能的變化情況，也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。符合GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A,GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B,IEC68-2.